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納米粒度儀通過動態(tài)光散射技術DLS檢測均勻穩(wěn)定樣品的粒徑和粒徑分布。DLS的最佳檢測范圍在幾納米至亞微米范圍。DLS技術無法有效檢測大顆粒的原因之一是大顆粒通常具有一定的沉降行為，這對動態(tài)光散射的準確性造成極大的影響。然而對于一些具有沉降特征的顆粒，可以利用其沉降行為進行粒度測試。
BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀中在0°角設置一個PD檢測器，通過檢測透射光的光強隨時間的變化，檢測沉降樣品的粒度和粒度分布信息。沉降法粒度測試的適合范圍在幾微米至幾十微米，可有效彌補動態(tài)光散射對大顆粒檢測的限制。
在這篇應用報告中，使用百特BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀、BetterPyc 380多功能真密度儀、Bettersize 2600激光粒度分析儀檢測了一種硅酸鋯粉末的粒度信息。
原理
BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀基于透射光路檢測樣品的透射光強度，然后基于斯托克斯方程：
計算體系的粒徑和粒徑分布信息，測試需要對應溫度下分散介質的折射率、密度和粘度信息、對應溫度下顆粒物的折射率和密度和樣品體積。
實驗
樣品信息如下：
其中樣品密度通過BetterPyc 380多動能真密度儀檢測，樣品的粒徑分別通過BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀和Bettersize 2600激光粒度分析儀檢測。
結果分析和結論
圖1. 沉降法信號（上圖）和沉降法粒度分布（下圖）
表1. 沉降法3次測試結果
圖2. Bettersize 2600激光粒度分析儀分布結果
表2. 沉降法和激光粒度儀典型值對照表
由測試結果可以看出，通過沉降法得到的結果具有較好的重復性，D50相對標準偏差優(yōu)于5%，沉降法得到的分布結果和激光粒度分析儀具有較好的可比性。
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